基于Canny-Devernay的算法芯片缺陷边缘检测

分享到

【作者】宋康康，张俊生，仝晓刚，张红宇
【刊名】信息技术与信息化
【作者单位】¹太原师范学院计算机科学与技术学院；²太原工业学院电子工程系
【年份】2025
【卷号】第4期
【页码】83-86
【ISSN】1672-9528
【关键词】封装缺陷 Canny边缘检测 Canny-Devernay亚像素边缘检测中值滤波直方图均衡化
【摘要】为提高在噪声较多的图像中集成电路封装缺陷图像分析的精度和连续性，文章提出了一种改进的边缘检测方法，即Canny-Devernay亚像素边缘检测算法。首先，采用均值滤波对图像进行平滑去噪，并利用直方图均衡化增强图像对比度。其次，计算图像的梯度，确定边缘点，并连接这些边缘点以形成连续的边缘轮廓。最后，通过细化边缘，获得了精确的图像边缘位置信息。与传统Canny边缘检测算法相比，Canny-Devernay亚像素边缘检测算法在准确度、回归率、精确率分别提高了11.93%、11.06%、15.55%。
【文献类型】期刊